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Product Category FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng)
FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統(tǒng)
                 QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀
QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀
                 QuickPRO-RPS--旋轉(zhuǎn)剖面儀
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                 QuickPRO-3D--表面輪廓儀
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                 QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀
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                 iFocus晶圓檢測系統(tǒng)
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                 EVG720自動化SmartNIL紫外納米壓印光刻系統(tǒng)
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                 FR-Mic:全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀
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                 FR-pRo:Thetametrisis膜厚測量儀
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                 FR-Scanner:自動化高速薄膜厚度測量儀
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                 FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀
FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀
                 FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150-自動化高速薄膜厚度測量儀
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                 FR-Ultra晶圓厚度測量系統(tǒng)
FR-Ultra晶圓厚度測量系統(tǒng)
                 FR-ES精簡薄膜厚度測量儀
FR-ES精簡薄膜厚度測量儀
                 EVG770 NTDymek岱美儀器分步重復納米壓印光刻機
EVG770 NTDymek岱美儀器分步重復納米壓印光刻機
                 EVG850 TB自動化臨時鍵合系統(tǒng)
EVG850 TB自動化臨時鍵合系統(tǒng)
                 Dymek岱美儀器EVG620 NT掩模對準光刻機系統(tǒng)
Dymek岱美儀器EVG620 NT掩模對準光刻機系統(tǒng)
                 LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置
LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置